TC-Wafer 测温系统
TC WAFER 测温系统用于采集工艺设备环境的温度数据，整套测温系统包括 TC WAFER 采集器和计算 机测试软件。采集器通道范围 1~34，测量温度范围广，实时传输采集数据，通过有线方式（RS485 或 USB 或 Ethernet ）与计算机进行通信，具备采集、存储、分析，绘制曲线、云图等功能。
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TC-Wafer 测温系统
产品概述
TC WAFER 测温系统用于采集工艺设备环境的温度数据，整套测温系统包括 TC WAFER 采集器和计算 机测试软件。采集器通道范围 1~34，测量温度范围广，实时传输采集数据，通过有线方式（RS485 或 USB 或 Ethernet ）与计算机进行通信，具备采集、存储、分析，绘制曲线、云图等功能。
产品简介
1、采集通道多，通道范围 1~34；
2、测量温度范围广，0~1100℃；
3、通讯方式多样，RS485 或 USB 或 Ethernet；
4、针对温度数据进行进一步分析， 可绘制曲线，云图。
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沪ICP备2023002235号
